缺陷性质分析-根据缺陷波形分析缺陷性质
缺陷波形分为静态波形和动态波形两大类。静态波形是指探头不动时缺陷波的高度、形状和密集程度。动态波形是指探头在检测面上移动过程中,缺陷波的变化情况。
静态波形
缺陷内含物声阻抗对缺陷回波高度有较大的影响。白点、气孔等内含气体,声阻抗很小,反射回波高。非金属或金属夹渣声阻抗较大,反射回波低。另外,不同类型缺陷反射波的形状也有一定的差别。例如气孔与夹渣,气孔表面较平滑,界面反射率高,波形陡直尖锐。而夹渣表面粗糙,界面反射率低,同时还有部分声波透人夹渣层,形成多次反射,波形宽度大并带锯齿,如图 4-41示。特点对于区分气孔与夹渣是有参考价值的。
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(a)气孔 |
(b)夹渣 |
图4-41 气孔和夹渣静态波形
单个缺陷与密集缺陷的区分比较容易。一般单个缺陷回波是独立出现的,而密集缺陷回波则是杂乱出现,且互相彼连。
图4-42 工件中常见缺陷的动态波形
动态波形
超声波人射到下同性质的缺陷上,其动态波形是不同的。为了便于分析估计缺陷的性质,常绘出动态波形图。动态波形图横坐标为探头移动距离,纵坐标为波高。常见不同性质缺略的动态波形如图4-42所示。不同性质密集缺陷的动态波形对探头移动的敏感程度不同。白点对探头移动很敏感,只要探头稍一移动,缺陷波立刻此起彼伏,十分活跃。但夹渣对探头移动不太敏感,探头移动时,缺陷波变化迟缓。