纵波检测时，探头若靠近侧壁，则经侧壁反射的纵波或横波与直接传播的纵波相遇产生干涉，给检测带来不利影响，如图4-51所示，曲线表示探头至侧壁三种不同距离时缺陷回波波高与至侧壁距离的关系。由图可以看出，对于靠近侧壁的缺陷，探头靠近侧壁正对缺陷检测，缺陷回波低，探头远离侧壁检测反而缺陷回波高。当缺陷的位置给定时，存在一个最佳的探头位置，使缺陷回波最高，这个最佳探头位置总是偏离缺陷。这说明由于侧壁干涉的影响，改变了探头的指向性，缺陷最高回波不在探头轴线上，这样不仅会影响缺陷定量，而且会影响缺陷定位。

图4-51  侧壁干涉