探头选择
1.型式:单晶直探头或双晶直探头。
2.频率:2MHz~5MHz。
3.晶片有效直径:Φ10mm~Φ25mm范围内。
耦合方式
耦合方式采用直接接触法或液浸法。
检测面选择
一般可从基材表面进行检测，也可以从复合层表面进行检测。
扫查方式
1.在复合钢板边缘或剖口预定线两侧范围内进行100%扫查，扫查区域宽度见表5-3；

2.在复合钢板中部区域，探头沿垂直于基材压延方向，间距不大于50mm的平行线进行扫查，或探头沿垂直和平行基材压延方向且间距不大于100mm的格子线进行扫查。扫查示意图如图5一6所示;

复合层板	Z?kg/m²s	Z?/Z?	r	t	T往	界面回波与底波的分贝差
镍	53.5	0.860	0.075	1.075	0.9943	22.5dB
奥氏体不锈钢	45.7	1.007	0.0033	0.9967	0.99998	49.6dB
铜	41.8	1.031	0.048	0.852	0.9977	26.4dB
钛	27.4	1.679	0.253	0.747	0.9358	11.4dB
铝	17.3	2.659	0.453	0.547	0.7944	4.9dB

3.根据合同、技术协议书或图样的要求，也可采用其他形式的扫查;
4.双晶直探头扫查时，探头移动方向应与探头的隔声层相垂直。
灵敏度校准
1.将探头置于复合钢板完全结合部位，调节第一次底面回波高度为显示屏满刻度的80%，以此作为基准灵敏度。同时灵敏度设定完成。
2.扫查灵敏度一般不低于基准灵敏度，如标准要求的提高6dB扫查。
未结合区的测定
1.未结合区的判断
在基准灵敏度条件下，第一次底面回波高度低于显示屏满刻度的5%，且明显有未结合缺陷回波存在时(回波高度≥5%)，该部位称为未结合区。
2.未结合区大小的测定

对于未结合区缺陷、确定最高反射回波后，前后、左右移动探头，使第一次底面回波升高到显示屏满刻度的40%处，此时各处的探头中心点作为未结合缺陷的边界点。各点连线即为未结合区的形状，可测出未结合缺陷的长度与面积。
未结合缺陷的评定和质量分级
NB/T47013.3-2015标准对未结合缺陷的评定和质量分级规定如下:
1.未结合的评定方法
(1)未结合缺陷指示长度的评定规则

未结合缺陷边界范围(形状) 确定后，用一边平行于板材压延方向的矩形框包围该未结合缺陷，长边作为缺陷的指示长度。若单个未结合缺陷的指示长度小于25mm时，可不作记录。
(2)单个未结合缺陷面积的评定规则
用测量未结合缺陷的矩形框面积作为未结合缺陷的指示面积。
①一个未结合缺陷按其指示的矩形面积作为该单个未结合缺陷的面积;
②多个未结合缺陷其相邻间距小于20mm时，按单个未结合缺陷处理，其面积为各个未结合缺陷指示面积之和。
(3)未结合率的评定
劝拿殴俜接蜗吠净1mx1m检测面积内，按未结合区缺陷指示面积所占百分比来确定。
2.质量分级
(1)复合钢板缺陷等级划分为Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ四个级别。Ⅰ级质量最高，Ⅳ级质量最低。
(2)在复合钢板边缘或剖口预定线两侧进行100%扫查的区域内，未结合缺陷的指示长度大于或等于25mm时，评为Ⅳ级。
(3)复合钢板质量分级按表5一7的规定执行。